2026/10/20
第1回エレクトロニクス基盤技術研究部門シンポジウム 「次世代エレクトロニクスを支える新材料デバイスと検査技術」
関連領域:
エレクトロニクス基盤技術研究部門では、「次世代エレクトロニクスを支える新材料デバイスと検査技術」をテーマに、 第1回エレクトロニクス基盤技術研究部門シンポジウムを開催します。
半導体の検査計測技術やトポロジカル磁性体を利用した半導体デバイスに関する招待講演に加え、当研究部門から、電子ビーム源、EOイメージング、 超伝導材料、テラヘルツ技術などに関する講演を行います。 また、ポスターセッションでは、各研究グループの研究内容や研究成果をご紹介します。
関連分野にご関心をお持ちの皆様はもちろん、当研究部門の研究内容を知りたい方、新たな研究連携のきっかけを探している方など、皆様のご参加をお待ちしております。
開催概要
| 日時 |
2026年12月18日(金)13:00‒17:20 |
| 会場 |
産業技術総合研究所 臨海副都心センター別館11階会議室 |
| 主催 |
産業技術総合研究所 エレクトロニクス基盤技術研究部門 |
| 申込方法 |
オンライン登録
※詳しくは、開催案内ページをご確認ください。 |
| 問い合わせ先 |
国立研究開発法人 産業技術総合研究所 エレクトロニクス基盤技術研究部門
Eメール:M-cetri-sec-ml*aist.go.jp(*を@に変更して送信下さい。) |
| 詳細案内 |
エレクトロニクス基盤技術研究部門
https://unit.aist.go.jp/cetri/index.html |
イベント一覧へ