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九州センター > ニュース
2013/10/02
新しい工業用X線非破壊検査法の提案 -これまで見えなかった欠陥がX線タルボ干渉法で撮影可能に-
【見学】有明工業高等専門学校電子情報工学科の方々が九州センターを見学
2013/09/09
【見学】直鞍産業振興世界戦略研究会の方々が九州センターを見学
2013/07/04
【見学】九州・沖縄地区高専地域連携センター長の方々が九州センターを見学
2013/06/10
【見学】阿蘇郡西原村管理組合の方々が九州センターを見学
2013/06/07
【見学】オリックス株式会社九州・沖縄ブロック の方々が九州センターを見学
2013/06/03
<特許>センサを近接させずに静電気を計測する方法 [ PDF : 918KB ] - 音波によって誘起される電界を用いて静電気を検出 -
2013/05/22
結晶シリコン太陽電池モジュールの出力低下を伴う劣化現象の抑制技術
2013/05/16
【見学】有明工業高等専門学校物質工学科の方々が九州センターを見学
2013/05/07
【見学】唐津商工会議所の方々が九州センターを見学
2012/06/01
音波を用いて静電気を計測する(PDF:914KB) -集束音波を走査して平面の静電気分布を可視化 -
2012/05/15
佐賀県と産業技術総合研究所が連携・協力協定を締結 -相互の技術、人材、施設を活かして研究開発、産学官連携を推進-
2012/05/07
微小液滴を用いてタンパク質の結晶を1個だけ得る方法 -発生する単結晶の数を抑える技術-
2012/05/01
<特許>高圧水素ガス用ゴムシールの非破壊検査技術(PDF:1.1MB) -内部き裂の早期検知を可能にする定量的評価方法を確立-
2012/04/01
金めっき光沢ムラの小型検査装置(PDF:1.2MB) -光沢ムラを数値化し、良否を客観的基準に基づいて自動判別 -
2012/01/27
産業技術総合研究所、九州工業大学及び北九州市が相互に連携・協力協定を締結 -三者が有する技術や情報を活かして研究開発、人材育成を推進-
2012/01/01
<特許>CMP処理後のマイクロクラック検査装置 [ PDF : 1MB ] - 内部に隠れたクラックを応力の作用で検出する光検査機を開発 -
2011/10/24
音波を用いて静電気を計測する技術を開発
2011/09/01
CMP処理後のウエハー・マイクロクラック検出装置の開発(PDF:913KB) -半導体生産計測技術における本格研究-
2011/01/01
<特許>耐熱性に優れた導電性薄膜 [ PDF : 818KB ] - 酸化物基板上で1,450℃に耐える薄膜電極を実現 -
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