量子デバイス製造用光学式膜厚測定装置 一式 - 産総研：調達情報
| 大分類 | 公開見積競争 |
|---|---|
| 中分類 | 公開見積競争 |
| 小分類 | 物件の買入れ等 |
| 対象拠点 | つくばセンター・東京本部 |
| 件名 | 量子デバイス製造用光学式膜厚測定装置 一式 |
| 掲載開始日 | 2023/11/13 |
|---|---|
| 掲載終了日 | 2024/11/29 |
| 内容 |
２０２３年１１月１３日 公開見積競争公告 次のとおり公開見積競争に付します。 契約担当職 国立研究開発法人産業技術総合研究所 調達室長 大谷 直人 １．公開見積競争に付する事項 (1) 件名・数量 量子デバイス製造用光学式膜厚測定装置 一式 (2) 特 質 等 仕様書による ＜概要＞ 本装置は、量子デバイスを構成する薄膜材料の膜厚を高精度に測定するための装置である。 (3) 納入期限 ２０２４年６月２８日 (4) 納入場所 国立研究開発法人産業技術総合研究所 つくばセンター 中央事業所 ２．公開見積競争に参加する者に必要な資格 (1)次のイ及びロに掲げる場合のいずれにも該当する者ではないこと。 イ 国立研究開発法人産業技術総合研究所の役員経験者が再就職している又は課長相当級以上の職の経験者が役員等として再就職している。 ロ 総売上高又は事業収入に占める国立研究開発法人産業技術総合研究所との間の取引割合が３分の１以上である。 (2)本公開見積競争公告の日から競争用見積書（以下「見積書」という。）提出の時までの期間に国立研究開発法人産業技術総合研究所の契約に係る指名停止等の措置要領に基づく指名停止を受けていないこと。 (3)公開見積競争説明書の交付を受けた者であること。 (4)技術審査において適格と判断された者であること。 (5)国立研究開発法人産業技術総合研究所の契約事務取扱要領第７条及び第８条に該当しない者であること。なお、契約事務取扱要領第７条及び第８条における「一般競争」は、「公開見積競争」に読み替えるものとする。 ３．公開見積競争説明書の交付場所 下記８．(2)において交付する。 なお、メールによる交付を希望する場合は、下記８．(2)にその旨を連絡すること。 ４．仕様説明会の日時及び場所 本件の仕様説明会は開催しない。 ５．競争参加に必要な書類の提出期限及び提出場所 ２０２３年１１月２０日（月）１２：００ 厳守 下記８．(2)に提出すること。なお、メールによる提出を可とする。 ６．見積書の提出期限及び提出場所 ２０２３年１１月２９日（水）１６：００ 厳守 見積書は封筒に入れ密封し、かつ封筒に件名及び事業者名を記載した上で、下記８．(2)に提出すること。 ７．契約の相手方の公表 本件の件名及び数量、契約締結日、契約金額、契約の相手方の商号又は名称、住所及び法人番号、競争参加者の人数等が公表されることについて同意するものとする。 ８．その他 (1)詳細は公開見積競争説明書による。 (2)本件に関する問い合わせ先 国立研究開発法人産業技術総合研究所 総務本部 調達部 調達室 調達Aグループ 比田 茜（ひだ あかね） 住 所：〒305-8568 茨城県つくば市梅園1-1-1 中央事業所２群 つくばセンター 中央事業所２群 ２－１Ｃ棟７階 ＴＥＬ：０２９－８６０－５２６３ メール：ｈｉｄａ－ａｋａｎｅ＠ａｉｓｔ．ｇｏ．ｊｐ |
| 添付ファイル | 仕様書_量子デバイス製造用光学式膜厚測定装置 一式.pdf（250.2 KB） |