平成29年度評価委員会(計量標準総合センター)評価報告書
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橋渡し研究後期における戦略•民間へ技術移転•民間校正設備精度向上、新たなトレーサビリティ技術(センサー・校正装置)開発•校正、計測技術による製品価値、企業価値向上•計測装置自体製品化85トレーサビリティ中間層担い手である民間校正事業者へ技術移転、計測機器開発を直接支援企業へ計測技術移転、製品・企業活動付加価値向上、計測技術自体製品化本日紹介する橋渡し研究後期テーマ86課題名研究概要備考計測用X線CT共同開発世界最高水準計測精度をもつ純国産初幾何形状計測用X線CT製品化を支援→製品化、国際標準化高精細フラットパネル型検出器を用いたインフラ診断用線非破壊検査システム開発高精細フラットパネル型検出器を用いたインフラ検査用X線非破壊検査システムを企業と共同開発→製品化、技術移転ポスター発表ありpH自動調整装置高度化色素吸光度変化を利用した計測手法を採用し、pHを3.0 -8.0 広いレンジで自動調整可能な装置を企業と共同開発→技術移転、製品化色・見え方定量化技術開発角度可変方式分光測定に基づく、三次元反射・透過計測システムを開発→受託研究、技術コンサルティング見学あり精密変位計をピコメートル精度で評価可能に精密変位計周期誤差最小化を実現しピコメートル精度で評価→共同研究3Dスキャナと3Dプリンタを通じた地域連携3D計測と3D形連携により全国公設研領域横断的連携基盤を構築→国内技術向上、国際標準化ミリ波帯平面回路精密測定技術開発高周波プローブ接触位置を電気信号測定から決定する手法を考案、測定精度を一桁向上→共同研究、技術コンサルティングポスター発表あり- 65 -

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