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計量標準

表面分析装置XPS20181109005

シリコン単結晶球体の表面は酸化膜で覆われています。プランク定数およびアボガドロ数を精密に測定するためにはその膜の厚さを測定し、純粋なシリコンのみの部分の体積を求めなければなりません。X線光電子分光法を用いたこのシステムによって、0.1 nm(100億分の1メートル)の精度で表面酸化膜の厚さを求めることができます。

キログラム、モルの新たな定義はそれぞれプランク定数とアボガドロ定数に基づきます。
この二つの物理定数はいずれも原子一個の質量と密接な関係にあり、厳密な物理学の式によって結びつけられています。このため、一方を測定すれば、もう一方も求めることができます。産総研ではこの二つの物理定数をシリコン単結晶を用いて高精度に測定し、新たな定義の基準の決定に大きく貢献しました。

表面分析装置XPS
画像サイズ 4093×2729(5.18MB)
整理番号 20181109005
領域 計量標準総合センター

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