Vol.4 No.3 2011

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研究論文:軽元素原子を可視化する新型低加速電子顕微鏡の開発(佐藤ほか)−174−Synthesiology Vol.4 No.3(2011)TEM with delta corrector and cold field emission gun, J. Electron Microsc., 59, S7-S13 (2010).H. Rose: Outline of a spherically corrected semiaplanatic medium-voltage transmission electron-microscope, Optik, 85, 19-24 (1990).M. Haider, S. Uhlemann, E. Schwan, H. Rose, B. Kabius and K. Urban: Electron microscopy image enhanced, Nature, 392, 768-769 (1998).F. Hosokawa, T. Sannomiya, H. Sawada, T. Kaneyama, Y. Kondo, M. Hori, S. Yuasa, M. Kawazoe, Y. Nakamichi, T. Tanishiro, N. Yamamoto and K. Takayanagi, Design and development of Cs corrector for a 300 kV TEM and STEM, Proc. IMC 16 (Sapporo), 582 (2006).H. Sawada, T. Sasaki, F. Hosokawa, S. Yuasa, M. Terao, M. Kawazoe, T. Nakamichi, T. Kaneyama, T. Tomita, Y. Kondo, K. Kimoto and K. Suenaga: Correction of higher order geometrical aberration by triple 3-fold astigmatism field, J. Electron. Microsc., 58, 341-347 (2009).H. Sawada, T. Sasaki, F. Hosokawa, S. Yuasa, M. Terao, M. Kawazoe, T. Nakamichi, T. Kaneyama, Y. Kondo, K. Kimoto and K. Suenaga: Higher-order aberration corrector for an image-forming system in a transmission electron microscope, Ultramicroscopy, 110, 958-961 (2010).H. Sawada, F. Hosokawa, T. Sasaki, T. Kaneyama, Y. Kondo and K. Suenaga: Chapter 6-Aberration correctors developed under the Triple C project, in P. Hawkes (Ed.): Advances in Imaging and Electron Physics, 168, 297-336 (2011).細川史生, 沢田英敬, 佐々木健夫, 近藤行人, 末永和知: 厚みのある4極子場が持つ凹レンズ効果を利用した, 対物レンズの色収差補正, 日本顕微鏡学会第66回学術講演会発表要旨集(名古屋), 14 (2010).H. Sawada, F. Hosokawa, T. Sasaki, S. Yuasa, M. Kawazoe, M. Terao, T. Kaneyama, Y. Kondo, K. Kimoto and K. Suenaga: Chromatic aberration correction by combination concave lens, Microsc. Microanal., 16(S2), 116-117 (2010).K. Urita, Y. Sato, K. Suenaga, A. Gloter, A. Hashimoto, M. Ishida, T. Shimada, H. Shinohara and S. Iijima: Defect-induced atomic migration in carbon nanopeapod: Tracking the single-atom dynamic behavior, Nano Lett., 4, 2451-2454 (2004).Y. Sato, T. Yumura, K. Suenaga, K. Urita, H. Kataura, T. Kodama, H. Shinohara and S. Iijima: Correlation between atomic rearrangement on defective fullerenes and migration behaviors of encaged metal ions, Phys. Rev. B, 73, 233409 (4 pages) (2006).K. Suenaga, M. Tencé, C. Mory, C. Colliex, H. Kato, T. Okazaki, H. Shinohara, K. Hirahara, S. Bandow, and S. Iijima: Element-selective single atom imaging, Science, 290, 2280-2282 (2000).K. Suenaga, Y. Sato, Z. Liu, H. Kataura, T. Okazaki, K. Kimoto, H. Sawada, T. Sasaki, K. Omoto, T. Tomita, T. Kaneyama and Y. Kondo: Visualizing and identifying single atoms using electron energy-loss spectroscopy with low accelerating voltage, Nat. Chem., 1, 415-418 (2009).K. Suenaga and M. Koshino: Atom-by-atom spectroscopy at graphene edge, Nature, 468, 1088-1090 (2010).http://www.salve-project.de/http://ncem.lbl.gov/TEAM-project/http://www.superstem.org/執筆者略歴佐藤 雄太(さとう ゆうた)2004年京都大学大学院エネルギー科学研究科博士後期課程修了。博士(エネルギー科学)。同年産業技術総合研究所ナノカーボン研究センター(現ナノチューブ応用研究センター)研究員。この論文では、低加速電子顕微鏡試作機による応用実験と本文の執筆を担当。佐々木 健夫(ささき たけお)2006年東京大学大学院工学系研究科マテリアル工学専攻博士課程修了。博士(工学)。同年日本電子株式会社入社。現在、同社EM事業ユニットEM第1技術グループ主任。この論文では、主に低加速電子顕微鏡試作機の性能評価と応用実験を担当。沢田 英敬(さわだ ひでたか)2002年東京大学大学院工学系研究科材料学専攻博士課程修了。博士(工学)。同年日本電子株式会社入社。現在、同社EM事業ユニットEM第1技術グループ副主任研究員。この論文では、主に収差補正装置の開発と低加速電子顕微鏡試作機の性能評価を担当。細川 史生(ほそかわ ふみお)1984年九州大学理学部(量子化学専攻)卒業、理学士。1984年日本電子株式会社入社。現在、同社EM事業ユニットEM第1技術グループ主幹研究員。透過電子顕微鏡の光学系開発に携わり、この論文では主に収差補正装置の開発を担当。富田 健(とみた たけし)1972年九州大学理学部物理学科卒業。同年日本電子株式会社入社。現在、同社EM事業ユニットEM第1技術グループ所属。この論文では、主に低加速電界放出形電子銃を担当。金山 俊克(かねやま としかつ)1987年東北大学大学院理学研究科物理学第二専攻修士課程修了。1987年日本電子株式会社入社。現在、同社EM事業ユニットEM第1技術グループ長。装置開発の全般にわたり統括を担当。[12][13][14][15][16][17][18][19][20][21][22][23][24][25][26][27]

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