技術宝箱

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概 要環境・エネルギー3 製品化に必要な課題 ①目標とする市場技術分野・X線評価装置 ②事業化に必要な技術・対象とする系に合わせた測定系の構築 ③事業化に必要な検証・対象とする系での確認/実証実験4 研究成果の特長 ①ポイント・薄膜結晶のの表裏を簡便に非破壊に評価できる・無機結晶から有機結晶に幅広く適用できる・単結晶から、配向多結晶に幅広く適用できる ②目的及び効果・X線回折法により非破壊で簡便に結晶の表裏を判別する 薄膜試料だけではなく、バルク試料も片面だけ測定して表裏判定できる5 特許関連情報 ①権利化済特許1.特許第4452807号 薄膜結晶の極性の判定方法 ②出願中特許 ③試作品・試料提供:有 許諾実績:無 実施許諾:可6 研究者情報所 属:太陽光発電工学研究センター(つくば中央)氏 名:反保 衆志 / Hitoshi TAMPO連絡先:E-mail: tampo-21@aist.go.jp12. X線回折法による薄膜のおもてうら判定73

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