技術宝箱

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概 要3 製品化に必要な課題 ①目標とする市場技術分野・ナノ材料製造・ナノレベル計測装置 ②事業化に必要な技術・操作性、作業効率・計測用基板作製 ③事業化に必要な検証・典型的試料による計測事例を増やす・計測を強く求められている微粒子サイズで検証4 研究成果の特長 ①ポイント・ナノ微粒子ひとつひとつをナノ電極間に配置できる。・ナノ微粒子ひとつひとつの電気的物性評価が可能になる。・ナノファイバーにも適応できる。 ②目的及び効果・ナノメータスケールの材料一個の物性計測ができる。・電気伝導度、熱伝導度、機械的強度を計測できるシステムが構築できる。5 特許関連情報 ①権利化済特許 ②出願中特許1.特開2009-196041 微粒子の捕獲方法、配置方法及びこれに使用するプローブ ③試作品・試料提供:無 許諾実績:無 実施許諾:可6 研究者情報所 属:ナノシステム研究部門(つくば中央)氏 名:清水 哲夫 /Tetsuo SHIMIZU連絡先:tetsuo-shimizu@aist.go.jp39. ナノ粒子ひとつひとつを並べる技術235ナノテクノロジー・材料・製造

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