2012年研究カタログ
407/543

■ 研究担当:藤原幸雄/齋藤直昭 ■ 計測フロンティア研究部門 イオン化量子操作研究グループ ■ 連携担当:齋藤直昭 ソフトイオン化技術と質量分析装置開発:Cluster-TOF-SIMSとIA-TOF研究のポイント研究のねらい研究内容連携可能な技術・知財 ●低損傷の脱離イオン化と優れた集束性の特徴を持つ新規なクラスターイオンビームの開発 ●フラグメント無し、選択性無しの特徴を持つイオン付着イオン化質量分析法の開発 ●各種の要素技術と質量分析装置の総合開発 質量分析の分野では、測定対象を壊さずに分析する技術が探究されています。液状や固体状試料を壊さないで気相あるいは真空中に取り出す技術(ソフト脱離技術)、および、試料を壊さないでイオン化する技術(ソフトイオン化技術)がその研究課題の代表です。これらの観点で、表面分析のためのクラスターイオンビームを利用した二次イオン質量分析法(Cluster-TOF-SIMS)、及び、発生ガスをリアルタイムで分析できるイオン付着イオン化質量分析法(IA-TOF)の開発などを進めています。Cluster-TOF-SIMS・金属クラスター錯体を用いたイオンビーム源、真空エレクトロスプレー方式の新型ビーム源など、集束性に優れたクラスターイオンビーム源の開発ならびにそれを搭載したCluster-TOF-SIMS装置の開発を進めています。IA-TOF・試料分子を“もれなく”“ソフトイオン化”できるIA法と飛行時間質量分析法から構成されるIA-TOF装置を世界で初めて開発し、高性能分析に成功しています。企業との共同研究でプロトタイプの装置も開発しました。Cluster-TOF-SIMS・有機材料や生体関連物質の表面組成や深さ方向の濃度分布が分析可能です。IA-TOF・揮発性や半揮発性の混合試料の全成分をリアルタイムで分析可能です。質量分析に関する技術開発・各種の要素技術や装置を共同で研究開発します。Cluster-TOF-SIMS装置IA-TOF装置● 研究拠点つくば中央405計測・計量標準分野第4会場S-50S-50

元のページ 

page 407

※このページを正しく表示するにはFlashPlayer10.2以上が必要です