2012年研究カタログ
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■ 研究担当:高畑圭二/榎原研正 ■ 計測標準研究部門 ナノ材料計測科 粒子計測研究室■ 連携担当:石川純 気中ナノ粒子計測における国際整合性の確保研究のポイント研究のねらい研究内容 ●電気移動度分析法のプロトコル(測定および評価手順書)の提案 ●プロトコルに沿った国際比較の実施 ●国際比較による測定能力および同等性の証明 ナノメートルの大きさの粒子は、その有益性への期待と有害性への不安から、材料、エレクトロニクス、バイオ、医療、環境など様々な分野で注目されており、正確で信頼性の高いナノ粒子計測が求められています。電気移動度分析法は、日本の粒径標準の供給にも用いられている技術で、ナノ粒子に対して高い精度の粒径測定が可能です。この電気移動度分析法による測定および評価手順の国際的な共通化を図ることで、ナノ粒子計測における信頼性の確保と精度管理に努めています。 世界各国の計量標準機関が参加するナノ粒子の粒径測定の国際比較が、APMP(アジア太平洋計量計画)およびVAMAS(新材料および標準に関するベルサイユプロジェクト)の活動の一環として計画、実施されています。これらの国際比較では、当研究室で提案した電気移動度分析法のプロトコルが採用されています。これらのプロトコルに沿った国際比較は、参加機関の測定能力および同等性の重要な証拠になります。連携可能な技術・知財●気中ナノ粒子の高精度計測および校正技術謝辞:本研究の一部は、日本学術振興会の「組織的な若手研究者等海外派遣プログラム」により行われたものです。電気移動度分析法の原理基準となるポリスチレンラテックス標準粒子内側電極帯電粒子外側電極清浄空気 静電場 スリット静電気力流体抵抗清浄空気による流下帯電粒子の軌跡特定の大きさの電気移動度をもつ粒子 ● 研究拠点つくば中央385計測・計量標準分野第1会場S-30S-30

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