2012年研究カタログ
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■ 研究担当:山本典孝/山田寿一/高田徳幸/徳久英雄/日下靖之/安部浩司/堤潤也/松井弘之 ■ フレキシブルエレクトロニクス研究センター■ 連携担当:鈴木英一 フレキシブルエレクトロニクスのための標準・計測技術開発研究のポイント研究のねらい研究内容連携可能な技術・知財 ●オープンイノベーションハブ機能を有する国内開発拠点としての位置づけの確立 ●界面制御パターニング技術およびパターニング計測技術開発 ●標準の素案作成(材料、パターニング技術、デザインルール) 印刷デバイスの性能を決定づける要因にインク等の材料性能・信頼性が挙げられます。現在、これらに標準的な評価方法がなく、各々のメーカーで相対的な性能比較が行われているため大きな支障をきたしています。産総研は、当該技術分野における国内開発拠点としての位置づけが確立されつつありますが、企業が集結する背景として、産総研が有する技術の統合により共通指標として評価していくことに対する要請があります。PE技術を産業として普及させるため、インクやプロセス、デバイスの標準性能計測・評価体制を整備していきます。 導電性インク・ペースト等の印刷パターンの性能・ 信頼性の定量的評価を行うとともに、それらの熱機械特性・屈曲耐性・剥離耐性・耐環境性・酸化劣化等を評価することで、プリンテッドエレクトロニクスの機械的特性や信頼性の標準評価法の開発と確立を目指します。 ●印刷配線の電気特性評価(屈曲耐性) ●交流インピーダンス法とSPMによる印刷配線評価 ● コロイドプローブを用いたSPM計測による濡れ性評価 ������������������������������ �������������� ������������������������� �������������������� ���������� ��������������� ������������� ������������������� �������������� ������������������� �������������������� �������������������������������������������������� ������������������������������������������������������������������������������������ ��������������������� ��� ���� ���� ���������� R �������������������� ������������������� ��� ���������� �������� C1 C2 R1 R2 R3 �� ���������������������� ��������������������� ������������������������������������������������������������������������������������������������������������������������ ����������� ������������������� ����������������������������������������������� ������������������ ������������ ������� ���������������������������� ���������������� ● 研究拠点つくば中央252情報通信・エレクトロニクス分野第3会場I-87I-87

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