2012年研究カタログ
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■ 研究担当:片下敏宏/堀洋平/川村信一/辛星漢 ■ セキュアシステム研究部門 ICチップセキュリティ研究班■ 連携担当:樋口哲也 ハードウェアの安全性評価技術と偽造防止技術研究のポイント研究のねらい研究内容連携可能な技術・知財 ●暗号デバイスの電力や電磁波から秘密情報を解析するサイドチャネル攻撃 ●攻撃への対策や評価手法を検証するための標準プラットフォームを構築 ●LSIの物理的な「指紋」情報を利用することでデバイスの偽造を防止 標準化されている暗号アルゴリズムは理論的な安全性の検証がなされていますが、これを実装する際に不備があると安全性が損なわれてしまいます。そのため、暗号モジュール認証では、アルゴリズムが正しく実装されているか検証がなされています。しかし、暗号デバイスから発生する消費電力や電磁波などを解析して内部の秘密情報を盗み出す攻撃が可能であることが発見されており、サイドチャネル攻撃と呼ばれています。この脅威に対し、対策手法の開発や安全性評価手法の標準化が急務となっています。 ハードウェアの物理的な安全性評価技術の研究促進を目的に、サイドチャネル攻撃の標準評価ボードや専用暗号LSIを開発しました。本評価環境は国内外の100を超える研究機関で広く活用され、これらの研究を通じて数多くの論文も執筆されるようになっています。また、産総研で得られた知識や技術はWebサイトより積極的に公開しており、デバイスの安全性の向上に取り組んでいます(図1、図2参照)。 このほか、評価技術を応用してデバイスの物理的な違いを抽出する手法の研究を進めており、人間の指紋のような情報を利用してLSIの偽造防止を目指しています。●標準評価ボードSASEBOの設計知財● サイドチャネル攻撃に適切な環境構築、計測手法、各種評価方法のノウハウ● デバイスの偽造防止技術PUF(Physical Unclonable Function)の構成手法 ●PUFデバイスの有効性評価謝辞: 本研究の一部は、JST CRESTならびにJST SPACESの支援を受けて実施されました。図1 サイドチャネル攻撃とは図2 物理的な安全性評価の標準プラットフォーム● 研究拠点つくば中央217情報通信・エレクトロニクス分野第2会場I-52I-52

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