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標準・計測分野の主な研究成果

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標準・計測分野の主な研究成果一覧
発表・掲載日
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カテゴリ
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件名
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研究ユニット
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分野
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関連
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2012年07月09日 プレスリリース
主な研究成果
XFEL用極低温放射計の写真0.1 nmより短波長のX線自由電子レーザー光強度を初めて測定
−国際的な計測基準での測定で標準供給と校正が可能に−
計測標準研究部門  計測・計量標準
2010年04月01日 主な研究成果
出版物
1 Hz級線幅の超安定化レーザーの開発
秒を刻む理想的な振り子を目指して
計測標準研究部門  計測・計量標準
2010年01月01日 主な研究成果
出版物
1000℃以上での熱電対の長期安定性の評価技術
熱電対校正のためのコバルト−炭素共晶点実現装置を開発
計測標準研究部門  計測・計量標準
2011年03月01日 主な研究成果
出版物
1GHz超のEMI試験用暗室の性能評価
マイクロ波光伝送システムと平面波スペクトル分解を用いた新しい性能評価法
計測標準研究部門  計測・計量標準
2001年04月01日 主な研究成果
出版物
計測標準研究部門  計測・計量標準
2003年06月09日 プレスリリース
主な研究成果
原子泉方式一次周波数標準器2000万年に1秒と狂わない高精度原子時計を開発
−世界最高水準の原子時計で標準時の進み方を監視−
計測標準研究部門  計測・計量標準
2012年01月01日 特許情報
出版物
CMP処理後のマイクロクラック検査装置
− 内部に隠れたクラックを応力の作用で検出する光検査機を開発 −
生産計測技術研究センター  計測・計量標準
2001年05月16日 主な研究成果
出版物
計測標準研究部門  計測・計量標準
2011年01月01日 主な研究成果
出版物
LEDの明るさ評価のための新たな標準の開発
−LED評価の信頼性向上への期待に応えるために−
計測標準研究部門  計測・計量標準
2009年09月01日 主な研究成果
出版物
PCB分析のための簡便な前処理法
PCB問題の早期解決の鍵となる迅速分析
計測標準研究部門  計測・計量標準
2004年06月11日 特許情報
出版物
光技術研究部門
計測標準研究部門
 情報通信・エレクトロニクス
 計測・計量標準
2013年01月04日 主な研究成果
出版物
X線自由電子レーザー強度の絶対測定 [ PDF:904KB ]
ビームモニターを校正し信頼できるレーザー強度を提供
計測標準研究部門  計測・計量標準
2007年08月01日 プレスリリース
生産計測技術研究センター概要図「生産計測技術研究センター」を設立
−生産現場における計測技術の問題解決と高度化を目指して−
生産計測技術研究センター  計測・計量標準
2003年11月17日 プレスリリース
「産総研工業標準化ポリシー」を策定
−産総研が所を挙げて工業標準化に取り組む姿勢を明確化−
成果普及部門  計測・計量標準
2008年11月14日 プレスリリース
主な研究成果
応力発光膜を塗布した金属試験片「見えない」危険を可視化する技術の開発
−応力発光体により構造物の欠陥とその危険レベルを同時に診断−
生産計測技術研究センター  計測・計量標準
2009年07月16日 プレスリリース
主な研究成果
新たな国家標準「協定世界時に同期した光周波数コム装置」の写真の一部「長さの国家標準」が新方式に
−光周波数コム装置を利用し「波長」を高精度化−
計測標準研究部門  計測・計量標準
2003年06月09日 主な研究成果
出版物
計測標準研究部門  計測・計量標準
2005年07月01日 主な研究成果
出版物
計測標準研究部門  計測・計量標準
2001年09月26日 主な研究成果
出版物
計測標準研究部門  計測・計量標準
2004年04月07日 主な研究成果
出版物
計測標準研究部門  計測・計量標準

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