独立行政法人 産業技術総合研究所
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2013年01月04日 主な研究成果
出版物 		計測標準研究部門
 計測・計量標準

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2012年07月09日 プレスリリース
主な研究成果
XFEL用極低温放射計の写真0.1 nmより短波長のX線自由電子レーザー光強度を初めて測定
−国際的な計測基準での測定で標準供給と校正が可能に−
計測標準研究部門
 計測・計量標準

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