産総研、物質・材料研究機構プラットフォームでは、文部科学省 「ナノテクノロジープラットフォーム事業」のもと、透過電子顕微鏡(TEM)、走査プローブ顕微鏡(SPM)、核磁気共鳴分析装置(NMR)、陽電子プローブマイクロアナライザー装置(PPMA)、超伝導蛍光収量X線吸収微細構造分析装置(SC-XAFS)等の様々な先端計測機器を公開しております。 今回は、両機関で公開している先端計測機器の概要説明の他、公開装置の中で特にTEM、PPMA、SC-XAFSを使った材料評価法の基礎とその応用例等を紹介するセミナーを企画しました。多数の皆様のご参加をお待ちしております。
| 日時 | 2012年12月6日 木曜日 13時30分 〜 17時30分 |
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| 会場 | 産業技術総合研究所 つくばセンター つくば中央第2 2-12棟 第6会議室 〒305-8568 茨城県つくば市梅園1-1-1 |
| 主催 | NIMS微細構造解析プラットフォーム、AIST微細構造解析プラットフォーム |
| 参加費 | 無料 |
| 申込方法 | オンライン登録、Eメール |
| 問い合わせ先 | 独立行政法人 物質・材料研究機構 微細構造解析プラットフォーム事務局 電話:029-859-2670 Eメール: |
| プログラム、申込先、その他詳細情報 | NIMS・AIST微細構造解析プラットフォーム 合同地域セミナー http://unit.aist.go.jp/riif/ja/event/img/NIMS_AIST_seminar121118.pdf [PDF:1.1MB] |